Sitzungsberichte der
Heidelberger Akademie der Wissenschaften

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H. v. Dechend und W. Hammer:

an den unabgelenkten Fleck heran. Bei Versuchen mit der oben
erwähnten Apparatur, die auch Kanalstrahlen geringerer Ge-
schwindigkeit zu beobachten erlaubte, haben wir früher einige
genauere Messungen der Entladungsspannung mit Hilfe der
Doppelbrechung des Schwefelkohlenstoffs im elektrischen Felde
angestellt*6) und innerhalb der Fehlergrenzen Proportionalität
der elektrischen Ablenkungen mit der reziproken Entladungs-
spannung gefunden. Dabei wurde die Spannung zwischen
10000 und 30000 Volt variiert. Wie die Photographien 2 und 3
zeigen, erstreckt sich die Variabilität der elektrischen Ablenkung,
also von rnv^, bis zu Spannungen von 45000 Volt hinauf und
wie direkte Beobachtungen zeigten, auch noch bis ca. 80000 Volt.
Die Tatsache, daß die abgelenkten Teile einen, nur nach
der Seite des unabgelenkten Fleckes scharfen, Phosphoreszenz-
streif en hervorrufen und nicht etwa einen einzelnen Punkt, zeigt,
daß die kinetische Energie der positiven wie der negativen
Jonen von einer oberen Grenze bis zu einer nicht festzustellenden
unteren Grenze hin abnimmt. Die Frage, ob diese Variation
durch kontinuierliche Änderung von m oder v oder beiden zu
erklären ist, haben die nunmehr zu beschreibenden Versuche
dahin entschieden, daß — für die einzelnen Jonengattungen kon-
stant ist, dagegen v variiert.
Die elektrische Ablenkung x und die magnetische Ablenkung
y (beide senkrecht zueinander) eines Teilchens von der Masse m,
Ladung e und Geschwindigkeit v sind bekanntlich gegeben durch

x = IG
y = Kg

m v"
e
m v

wo die Konstanten K, und Kg die elektrische und magnetische
Feldstärke und im übrigen nur Apparatdimensionen enthalten.
Also ist
,2

1

IG
IG
IG

e
m

und

*5 Herr Dr. O. D. TAUERN hatte die Liebenswürdigkeit, diese Messungen
auszuführen, c. (L P7^s., 4, p. 1064, 1910.