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https://doi.org/10.11588/diglit.37442#0007
Direkte lichtelektrische Methode.
(A. 19) 7
mit COg in Alkohol für Entfernung der Dämpfe gesorgt wurde.
Zur Kontrolle des Vakuums diente anfangs eine Funkenstrecke
(4—6 cm), später ein Mc Leod (etwa 0,00002 mm Hg). (Näheres
vgl. Ann.)
Die Wirkungsweise der gesamten Anordnung ist jetzt ohne
weiteres einzusehen. F^ wird von dem Licht einer bestimmten
Spektrallinie bestrahlt und sendet infolgedessen nach allen Rich-
tungen hin Elektronen verschiedener Geschwindigkeiten aus.
Erzeugt man jetzt ein geeignetes magnetisches Feld H, dessen
Kraftlinien parallel zur Achse des Kreises Fi Fg Fg F^ mit dem
Radius r verlaufen, so gelangen diejenigen Elektronen, welche
senkrecht von Fi emittiert werden und eine lineare Geschwindig-
keit von der Größe
v = — r. H
ß
besitzen, in den Auff'angekäfig K. Durch Variation von H erhält
man so sukzessive diejenigen Elektronenmengen, die eine bestimmte
Geschwindigkeit haben, d. h. man erhält unmittelbar die gesuchte
Verteilungskurve der linearen Elektronengeschwindigkeiten, welche
bei senkrechter Emission der Elektronen der benützten Wellen-
länge des Lichtes zugehört.
Es erhebt sich jetzt die prinzipiell wichtige Frage, wie weit
die so gefundene Verteilungskurve durch die endlichen d. h. nicht
unendlich kleinen Dimensionen der Flächen F^ Fg, Fg gefälscht
wird. Dieses Problem ist etwa das gleiche wie die Korrektur der
spektralen Photometermessung auf die Spaltbreite 0. Diese rein
geometrische Aufgabe, von deren Lösung die richtige Deutung
aller unserer Versuchsresultate abhängt, soll hier ausführlich be-
handelt werden. Wir wollen dabei voraussetzen, daß die über-
haupt in Betracht kommenden Emissionsrichtungen der Elektro-
nen, welche ja alle nahe senkrecht zu Fi stehen, in Menge und
Geschwindigkeitsverteilung gleichwertig sind. (Den experimentellen
Beweis hiefür bis zu 45° Emissionswinkel s. in der nächsten Veröff.)
Wir behandeln zuerst die Frage nach der Häufigkeit der ver-
schiedenen Kreisradien für eine Schnittebene. Die Punkte
ab, cd, ef (Fig. 2) stellen die Grenzen der Flächen F^ Fg, Fg dar;
dabei ist b M = d M = f M = 4 mm und ab = cd = ef == 2 mm
angenommen. Es läßt sich nun folgender Satz beweisen: Die
Häufigkeit eines bestimmten Radius r ist proportional der Fläche
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mit COg in Alkohol für Entfernung der Dämpfe gesorgt wurde.
Zur Kontrolle des Vakuums diente anfangs eine Funkenstrecke
(4—6 cm), später ein Mc Leod (etwa 0,00002 mm Hg). (Näheres
vgl. Ann.)
Die Wirkungsweise der gesamten Anordnung ist jetzt ohne
weiteres einzusehen. F^ wird von dem Licht einer bestimmten
Spektrallinie bestrahlt und sendet infolgedessen nach allen Rich-
tungen hin Elektronen verschiedener Geschwindigkeiten aus.
Erzeugt man jetzt ein geeignetes magnetisches Feld H, dessen
Kraftlinien parallel zur Achse des Kreises Fi Fg Fg F^ mit dem
Radius r verlaufen, so gelangen diejenigen Elektronen, welche
senkrecht von Fi emittiert werden und eine lineare Geschwindig-
keit von der Größe
v = — r. H
ß
besitzen, in den Auff'angekäfig K. Durch Variation von H erhält
man so sukzessive diejenigen Elektronenmengen, die eine bestimmte
Geschwindigkeit haben, d. h. man erhält unmittelbar die gesuchte
Verteilungskurve der linearen Elektronengeschwindigkeiten, welche
bei senkrechter Emission der Elektronen der benützten Wellen-
länge des Lichtes zugehört.
Es erhebt sich jetzt die prinzipiell wichtige Frage, wie weit
die so gefundene Verteilungskurve durch die endlichen d. h. nicht
unendlich kleinen Dimensionen der Flächen F^ Fg, Fg gefälscht
wird. Dieses Problem ist etwa das gleiche wie die Korrektur der
spektralen Photometermessung auf die Spaltbreite 0. Diese rein
geometrische Aufgabe, von deren Lösung die richtige Deutung
aller unserer Versuchsresultate abhängt, soll hier ausführlich be-
handelt werden. Wir wollen dabei voraussetzen, daß die über-
haupt in Betracht kommenden Emissionsrichtungen der Elektro-
nen, welche ja alle nahe senkrecht zu Fi stehen, in Menge und
Geschwindigkeitsverteilung gleichwertig sind. (Den experimentellen
Beweis hiefür bis zu 45° Emissionswinkel s. in der nächsten Veröff.)
Wir behandeln zuerst die Frage nach der Häufigkeit der ver-
schiedenen Kreisradien für eine Schnittebene. Die Punkte
ab, cd, ef (Fig. 2) stellen die Grenzen der Flächen F^ Fg, Fg dar;
dabei ist b M = d M = f M = 4 mm und ab = cd = ef == 2 mm
angenommen. Es läßt sich nun folgender Satz beweisen: Die
Häufigkeit eines bestimmten Radius r ist proportional der Fläche